[实用新型]一种光学硅片的缺陷快速检测设备有效
| 申请号： | 201921270768.5 | 申请日： | 2019-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN210401241U | 公开（公告）日： | 2020-04-24 |
| 发明（设计）人： | 张华民;言利宏;马黎钧 | 申请（专利权）人： | 丹阳市鑫烨光学仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/01 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 212321 江苏省镇*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型的目的是为了解决现有的不易直观对光学硅片的缺陷情况进行检测的难题，公开了一种光学硅片的缺陷快速检测设备，包括驱动组件、底板、连接布、照明灯、支撑杆、第一齿条、滑板、导向架、滑块、第一螺旋弹簧、套环、握柄、导槽、导杆、第一连接环、滑杆、第一遮挡布、螺帽、第二螺旋弹簧、导向环、第二连接环、第三连接环、定位块、支撑板、第二遮挡布、气囊、电机、第二齿条、安装杆、转盘和通光孔。本实用新型通过第一遮挡布、第二遮挡布和连接布的设置，可以让光学硅片处在一种黑暗的封闭空间，再通过照明灯对光学硅片的照明，进而可以实现对光学硅片缺陷的直观检测，且设计合理，符合光学硅片检测领域的需求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 硅片 缺陷 快速 检测 设备 | ||
【主权项】：
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