[实用新型]缺陷发光二极管颗粒的分离装置有效
| 申请号： | 201921279684.8 | 申请日： | 2019-08-08 |
| 公开（公告）号： | CN209981171U | 公开（公告）日： | 2020-01-21 |
| 发明（设计）人： | 庄荣桂 | 申请（专利权）人： | 亿光电子(中国)有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;H01L21/67;H01L21/687 |
| 代理公司： | 31100 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 骆希聪 |
| 地址： | 215200 江苏省苏州市吴江区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种缺陷发光二极管颗粒的分离装置，包括：自动光学检查仪，识别整块胶膜的正面上的缺陷发光二极管颗粒，并获取所述缺陷发光二极管颗粒的坐标；传送机构，上下翻转并传送所述整块胶膜；以及分离组件，包括驱动机构和自动顶出机构，所述自动顶出机构在所述驱动机构的驱动下移动至与所述坐标对应的位置，并通过所述胶膜的背面向所述位置的缺陷发光二极管颗粒施加顶出力，使得所述位置的缺陷发光二极管颗粒从所述胶膜上分离。与现有技术相比，本实用新型对经过自动光学检测之后的胶膜进行翻转和自动顶出，实现了对胶膜从检测、识别到缺陷剔除的自动化处理过程，提高了工作效率和生产力。 | ||
| 搜索关键词： | 发光二极管颗粒 胶膜 本实用新型 顶出机构 驱动机构 整块 自动光学检测 自动化处理 传送机构 分离装置 分离组件 工作效率 上下翻转 自动光学 翻转 顶出力 检查仪 顶出 剔除 传送 施加 驱动 检测 移动 生产力 | ||
【主权项】：
1.一种缺陷发光二极管颗粒的分离装置，包括：/n自动光学检查仪，识别整块胶膜的正面上的缺陷发光二极管颗粒，并获取所述缺陷发光二极管颗粒的坐标；/n传送机构，上下翻转并传送所述整块胶膜；以及/n分离组件，包括驱动机构和自动顶出机构，所述自动顶出机构在所述驱动机构的驱动下移动至与所述坐标对应的位置，并通过所述胶膜的背面向所述位置的缺陷发光二极管颗粒施加顶出力，使得所述位置的缺陷发光二极管颗粒从所述胶膜上分离。/n
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
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