[实用新型]一种红外探测器真空度测量装置有效
申请号: | 201921301530.4 | 申请日: | 2019-08-12 |
公开(公告)号: | CN210136024U | 公开(公告)日: | 2020-03-10 |
发明(设计)人: | 林明芳;陈俊宇;郭信良 | 申请(专利权)人: | 江苏鼎茂半导体有限公司 |
主分类号: | G01L21/00 | 分类号: | G01L21/00 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 吴东勤 |
地址: | 215000 江苏省苏州市工*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型涉及一种红外探测器真空度测量装置,包括陶瓷管壳、红外芯片、吸气剂、光学窗和金属上盖,所述光学窗通过焊料片固定在所述金属上盖顶部且所述金属上盖底部通过焊料片固定在所述陶瓷管壳顶部以形成密闭腔体,所述陶瓷管壳顶部连接有位于所述密闭腔体内的金属焊盘,所述密闭腔体内还设置有微型真空计、吸气剂和与所述金属焊盘相连的所述红外芯片,所述陶瓷管壳底部设置有与所述金属焊盘连接的引脚;本实用新型的优点是:在红外探测器腔体内部设置与陶瓷管壳上的电极焊盘相连通的微型真空计,通过将陶瓷管壳上的电极焊盘与测量微型真空计讯号的仪器相连即可测得红外探测器腔体内的真空度,无需破坏红外探测器以进行检测,并且检测高效、准确。 | ||
搜索关键词: | 一种 红外探测器 真空 测量 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏鼎茂半导体有限公司,未经江苏鼎茂半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201921301530.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种带自行修复绝缘击穿功能的服务机器人本体线缆
- 下一篇:LR复合式电抗器