[实用新型]一种基于两步法的超精密圆度测量装置有效

专利信息
申请号: 201921343531.5 申请日: 2019-08-19
公开(公告)号: CN210426423U 公开(公告)日: 2020-04-28
发明(设计)人: 史生宇;徐文华;文志荣;祝隽永;殷小春;瞿金平 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: G01B7/28 分类号: G01B7/28
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 梁睦宇
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种基于两步法的超精密圆度测量装置,包括基座、第一转台、第二转台、三爪卡盘、位移传感器和高度调节机构;所述第一转台安装于基座上;所述第二转台通过磁力吸座安装于第一转台上;所述三爪卡盘安装于第二转台上;所述第一转台的中轴线、第二转台的中轴线和三爪卡盘的中轴线均位于同一直线上;所述高度调节机构的下端安装于基座上;所述位移传感器的一端安装于高度调节机构,且所述位移传感器的探头轴线与基座表面平行。本实用新型的测量装置结构简单,且采用有效的手段以抑制测量不确定度的传播,令测量不确定度达到最小,测量精度达到最高。
搜索关键词: 一种 基于 步法 精密 测量 装置
【主权项】:
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