[实用新型]超微电容外观检测设备导正机构有效
申请号: | 201921378766.8 | 申请日: | 2019-08-22 |
公开(公告)号: | CN210982244U | 公开(公告)日: | 2020-07-10 |
发明(设计)人: | 喻超凡;叶光进;谢国荣;朱礼平;龚博 | 申请(专利权)人: | 珠海市奥德维科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G01N21/01;B65G47/24 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 519075 广东省珠海市前山沥溪工业园*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了超微电容外观检测设备导正机构,包括固定底座,所述固定底座的上表面开设有四组固定螺栓孔,所述固定底座的上表面通过螺栓固定连接有第一调节板,且第一调节板的上表面也通过螺栓固定连接有第二调节板,所述连接板的前端螺纹连接有调节杆,所述连接板的上端固定连接有连接座,所述连接座的上端通过螺栓固定连接有支撑板,所述支撑板的右侧固定连接有连接块,所述支撑板的上端设置有导正机构。本实用新型所述的超微电容外观检测设备导正机构,通过导正机构,从而对所需要的微小产品电容进行检测导正,导正率达到99%,很大程度的提高了对产品的外观检测效率,降低了人工操作的工作强度。 | ||
搜索关键词: | 电容 外观 检测 设备 导正 机构 | ||
【主权项】:
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