[实用新型]超微电容外观检测设备导正机构有效

专利信息
申请号: 201921378766.8 申请日: 2019-08-22
公开(公告)号: CN210982244U 公开(公告)日: 2020-07-10
发明(设计)人: 喻超凡;叶光进;谢国荣;朱礼平;龚博 申请(专利权)人: 珠海市奥德维科技有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01N21/01;B65G47/24
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 519075 广东省珠海市前山沥溪工业园*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了超微电容外观检测设备导正机构,包括固定底座,所述固定底座的上表面开设有四组固定螺栓孔,所述固定底座的上表面通过螺栓固定连接有第一调节板,且第一调节板的上表面也通过螺栓固定连接有第二调节板,所述连接板的前端螺纹连接有调节杆,所述连接板的上端固定连接有连接座,所述连接座的上端通过螺栓固定连接有支撑板,所述支撑板的右侧固定连接有连接块,所述支撑板的上端设置有导正机构。本实用新型所述的超微电容外观检测设备导正机构,通过导正机构,从而对所需要的微小产品电容进行检测导正,导正率达到99%,很大程度的提高了对产品的外观检测效率,降低了人工操作的工作强度。
搜索关键词: 电容 外观 检测 设备 导正 机构
【主权项】:
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