[实用新型]一种改善击穿特性的平面栅双极型晶体管结构有效
申请号: | 201921552313.2 | 申请日: | 2019-09-18 |
公开(公告)号: | CN210607265U | 公开(公告)日: | 2020-05-22 |
发明(设计)人: | 阳平 | 申请(专利权)人: | 上海擎茂微电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L29/739 | 分类号: | H01L29/739;H01L29/06 |
代理公司: | 温州知远专利代理事务所(特殊普通合伙) 33262 | 代理人: | 汤时达 |
地址: | 201100 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种改善击穿特性的平面栅双极型晶体管结构,包括半导体衬底、栅氧化层、多晶硅栅极、浮空栅极场板、发射极电极、FOX区、JFET区、二氧化硅绝缘介质层、N+发射极区、P型基区、P+深阱区、P型集电极区以及集电极,浮空栅极场板与多晶硅栅极相连,并在器件表面跨过栅极的上方延伸至JFET区上方。本实用新型通过设置半导体衬底、栅氧化层、多晶硅栅极、浮空栅极场板、发射极电极、FOX区、JFET区、二氧化硅绝缘介质层、N+发射极区、P型基区、P型集电极区和集电极的相互配合,达到了击穿特性好的优点,解决了现有的平面栅双极型晶体管结构击穿特性差的问题,方便了人们使用,提高了平面栅双极型晶体管结构的实用性。 | ||
搜索关键词: | 一种 改善 击穿 特性 平面 栅双极型 晶体管 结构 | ||
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