[实用新型]一种改善击穿特性的平面栅双极型晶体管结构有效

专利信息
申请号: 201921552313.2 申请日: 2019-09-18
公开(公告)号: CN210607265U 公开(公告)日: 2020-05-22
发明(设计)人: 阳平 申请(专利权)人: 上海擎茂微电子科技有限公司
主分类号: H01L29/739 分类号: H01L29/739;H01L29/06
代理公司: 温州知远专利代理事务所(特殊普通合伙) 33262 代理人: 汤时达
地址: 201100 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种改善击穿特性的平面栅双极型晶体管结构,包括半导体衬底、栅氧化层、多晶硅栅极、浮空栅极场板、发射极电极、FOX区、JFET区、二氧化硅绝缘介质层、N+发射极区、P型基区、P+深阱区、P型集电极区以及集电极,浮空栅极场板与多晶硅栅极相连,并在器件表面跨过栅极的上方延伸至JFET区上方。本实用新型通过设置半导体衬底、栅氧化层、多晶硅栅极、浮空栅极场板、发射极电极、FOX区、JFET区、二氧化硅绝缘介质层、N+发射极区、P型基区、P型集电极区和集电极的相互配合,达到了击穿特性好的优点,解决了现有的平面栅双极型晶体管结构击穿特性差的问题,方便了人们使用,提高了平面栅双极型晶体管结构的实用性。
搜索关键词: 一种 改善 击穿 特性 平面 栅双极型 晶体管 结构
【主权项】:
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