[实用新型]一种测量台阶孔精度的塞规有效

专利信息
申请号: 201921591785.9 申请日: 2019-09-24
公开(公告)号: CN210603027U 公开(公告)日: 2020-05-22
发明(设计)人: 沃林;尉志超 申请(专利权)人: 苏州英示测量科技有限公司
主分类号: G01B3/26 分类号: G01B3/26
代理公司: 苏州隆恒知识产权代理事务所(普通合伙) 32366 代理人: 周子轶
地址: 215009 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型提供的一种测量台阶孔精度的塞规,包括匹配于台阶孔的台阶式塞规本体,所述塞规本体的每个台阶面的外壁上均设有测头组,所述测头组自所述塞规本体的内部延伸至其外部,所述测头组的延伸方向垂直于塞规本体的轴向,且所述测头组能够在其延伸方向上伸缩移动,所述测头组均对应连接有量测杆,所述量测杆抵接在所述测头组上并随着所述测头组的移动而移动,所述量测杆的一端与所述测头组连接,另一端连接有用于显示测头组移动距离的测量数值读取装置。本实用新型能够同时检测台阶孔的上台阶面精度,操作便捷,测量效率高,检测精度高。
搜索关键词: 一种 测量 台阶 精度 塞规
【主权项】:
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