[实用新型]电子部件的测试设备有效
| 申请号： | 201921597673.4 | 申请日： | 2019-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN210954245U | 公开（公告）日： | 2020-07-07 |
| 发明（设计）人： | 韩光通;余毅 | 申请（专利权）人： | 西门子数控（南京）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 211100 江苏省南*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及电子部件的测试设备，其中测试设备包括：一测试系统，测试系统被配置为测试电子部件；以及一测试夹具，测试夹具被配置为将电子部件固定在测试系统上，其中，测试系统包括：一锁紧机构，用于将测试系统与测试夹具连接，其中，锁紧机构包括：一操作件，用于以旋转的方式操作；一锁紧件，用于连接和锁紧测试夹具；以及一驱动结构，连接在操作件与锁紧件之间，用于将操作件的扭矩转换成在水平方向驱动锁紧件的驱动力，使得锁紧件沿水平方向运动从而在位于第一侧的用于释放测试夹具的释放位置与位于第二侧的用于锁紧测试夹具的锁紧位置之间切换。根据本实用新型的电子部件的测试设备提供了测试系统与测试夹具之间的快速和稳定的连接。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 部件 测试 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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