[实用新型]一种芯片检测装置有效
申请号: | 201921645877.0 | 申请日: | 2019-09-29 |
公开(公告)号: | CN211014374U | 公开(公告)日: | 2020-07-14 |
发明(设计)人: | 孙庆 | 申请(专利权)人: | 东莞市凯迪微清洗技术有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/28 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 张子宽 |
地址: | 523000 广东省东莞市大*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种芯片检测装置,用于方便地实现对芯片的供电电路的开断操作。该芯片检测装置包括导电载具、第一导电部件、第二导电部件、和升降机构。导电载具用于支撑待测试的芯片和向芯片供电。第一导电部件包括第一接口,第一接口和导电载具电连接。第二导电部件包括第二接口,第二导电部件用于向第二接口提供获取的电能。第二导电部件和升降机构固定连接,升降机构用于控制第二导电部件沿垂直方向移动,以控制第二接口和第一接口抵接和分离。当第二接口和第一接口抵接时,第二接口和第一接口电连接。这样,通过升降机构可控制第二接口和第一接口的抵接和分离状态,方便地实现了对芯片的供电电路的开断操作。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 检测 装置 | ||
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