[实用新型]芯片测试系统有效
| 申请号： | 201921751674.X | 申请日： | 2019-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN211180093U | 公开（公告）日： | 2020-08-04 |
| 发明（设计）人： | 田景均 | 申请（专利权）人： | 深圳泰思特半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542 | 代理人： | 张小容 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市坪山区龙田街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开一种芯片测试系统，包括测试主板和桥接器，测试主板内设有若干个测试模块，每个测试模块对应设有若干数量的测试接口；桥接器用于与芯片通讯连接，且所有测试接口均与桥接器通讯连接；桥接器根据芯片的数据通道的数量，控制与测试接口的导通数量，以使对应的测试模块与芯片导通。本实用新型技术方案实现了无需增加测试架，便能够测试不同数据通道的芯片的功能，提高了芯片测试的便利性。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 系统 | ||
【主权项】：
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