[实用新型]一种半导体器件的终端结构有效

专利信息
申请号: 201921780363.6 申请日: 2019-10-21
公开(公告)号: CN210866184U 公开(公告)日: 2020-06-26
发明(设计)人: 肖婷;史波;曾丹;敖利波;曹俊 申请(专利权)人: 珠海格力电器股份有限公司
主分类号: H01L29/739 分类号: H01L29/739;H01L29/78;H01L29/06;H01L21/335;H01L21/336
代理公司: 北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662 代理人: 郭金鑫
地址: 519070*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种半导体器件的终端结构,包括半导体衬底层、沟槽和离子掺杂层;多个沟槽沿预设方向开设在所述半导体衬底层上表面,多个所述沟槽的尺寸沿所述预设方向逐渐增大;离子掺杂层通过离子注入在所述半导体衬底层形成,所述离子掺杂层包围所述沟槽。本实用新型在沟槽刻蚀阶段对沟槽结构进行改进,通过沟槽刻蚀尺寸来影响刻蚀深度情况,实现终端结构的变掺杂,无需对终端离子注入工艺进行调整,避免了离子断开,不能实现渐变,引起器件漏电的问题。
搜索关键词: 一种 半导体器件 终端 结构
【主权项】:
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