[实用新型]一种多环组合式磁探仪校准装置有效

专利信息
申请号: 201921807799.X 申请日: 2019-10-25
公开(公告)号: CN210572816U 公开(公告)日: 2020-05-19
发明(设计)人: 王超影;吴全传 申请(专利权)人: 武汉市中邦博尔高新科技有限公司
主分类号: G01V13/00 分类号: G01V13/00
代理公司: 武汉谦源知识产权代理事务所(普通合伙) 42251 代理人: 尹伟
地址: 430000 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 实用新型涉及一种多环组合式磁探仪校准装置,其包括长圆管,长圆管的外侧圆柱面上均匀间隔的开设有线槽,每个线槽中均绕制相同匝数的线圈且各线圈通过出线端子串联,任意相邻的两个线圈构成一个亥姆霍兹线圈,长圆管内设有探杆支架,探杆支架可使探杆沿长圆管的中心轴线置入长圆管内。有益效果是:在长圆管上均匀间隔开设多个线槽并绕制线圈后串联形成多组亥姆霍兹线圈,在长圆管内实现一定范围的轴向磁场均匀且幅值一致,探杆通过探杆支架沿长圆管中心轴线放入长圆管内,探杆上的两探头先是物理同轴,然后其又处于相同的磁场内,可方便的调校其磁轴一致,使磁探仪的精度被调校的较好,调校操作更简单且效率更高。
搜索关键词: 一种 组合式 磁探仪 校准 装置
【主权项】:
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