[实用新型]一种集成原位取样与测试的光路折返系统有效
| 申请号： | 201921846453.0 | 申请日： | 2019-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN211205930U | 公开（公告）日： | 2020-08-07 |
| 发明（设计）人： | 蒋泰毅;刘飞;蔡磊;乐聪林 | 申请（专利权）人： | 武汉晟诺仪器科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/24 | 分类号： | G01N1/24;G01N21/84;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京盛凡智荣知识产权代理有限公司 11616 | 代理人： | 张塨 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区佛祖岭三路28号*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种集成原位取样与测试的光路折返系统，包括系统箱体：系统箱体的内部设有安装有加热装置，系统箱体还用于对元器件的固定安装，探头：用于系统箱体与取样烟囱之间的连接，射流泵：为样气提供动力。本实用新型中，直接将探头集成于系统箱体之内，系统箱体安装在取样烟囱壁，通过射流泵抽取样气，样气经取样探头到角座阀进入气室管对样气进行取样，加热装置主动对气室管和样气加热，防止热量损失，从而直接对样气取样分析测量，达到无样气浓度损失，工作温区范围广，产品维护上维护简易，维护周期长，光路结构简单，调光容易，可现场标定验证，不受现场安装条件的限制。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成 原位 取样 测试 折返 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉晟诺仪器科技有限公司，未经武汉晟诺仪器科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201921846453.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
