[实用新型]一种电子产品老化测试装置有效

专利信息
申请号: 201921983942.0 申请日: 2019-11-18
公开(公告)号: CN210953752U 公开(公告)日: 2020-07-07
发明(设计)人: 董亚勇;郭彦良 申请(专利权)人: 刘宁
主分类号: G01N17/00 分类号: G01N17/00
代理公司: 濮阳华凯知识产权代理事务所(普通合伙) 41136 代理人: 王传明
地址: 301700 天津市武清区杨*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 实用新型涉及到一种测试装置技术领域,具体涉及到一种电子产品老化测试装置。包括箱体,箱体底板上固定有矩形围框,围框上方设置有垫板,围框内的箱体底板上镶嵌设置有风扇,上板的左右两侧均开设有纵向的长槽,上板下方设置有测试元件,测试元件上端固定有两个竖直的连杆,连杆与长槽对应,连杆贯穿其一侧的长槽并与其滑动配合,挡杆贯穿上板上方连杆上的槽孔,往复丝杠上螺纹连接有活动块,活动块下端前后两侧均固定有夹板,夹板滑动设置在凹槽内,挡杆位于两夹板之间,箱体上端固定有显示屏,显示屏与测试元件电性连接。本实用新型,测试过程能够对被测试的电子产品进行有效稳定,同时测试过程中电子产品产生的热量能够快速散去。
搜索关键词: 一种 电子产品 老化 测试 装置
【主权项】:
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