[实用新型]一种玻璃基板检测用密度天平有效

专利信息
申请号: 201922010399.2 申请日: 2019-11-20
公开(公告)号: CN211263076U 公开(公告)日: 2020-08-14
发明(设计)人: 舒众众;刘文瑞;张晓东;宋长刚;宫传艳;杨淑妍 申请(专利权)人: 蚌埠中光电科技有限公司
主分类号: G01N9/08 分类号: G01N9/08;G01G19/62;G01G23/01
代理公司: 安徽省蚌埠博源专利商标事务所(普通合伙) 34113 代理人: 杨晋弘
地址: 233000 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 实用新型公开了一种玻璃基板检测用密度天平,包括天平本体,放置在天平本体台面上的测量支架,放置在天平本体台面上且穿过测量支架架体的四脚支撑板,在四脚支撑板上放置水槽,称量支架安装在测量支架顶部,称量盘安装在称量支架顶部,温度传感器安装在水槽中,温度传感器连接数据处理单元,其中天平本体、四脚支撑板、称量盘上均设置有水平显示气泡仪。本实用新型结构简单实用、操作方便、适用范围广、效率高,有效解决天平平衡、纯水密度温度补偿等对密度测试数据影响问题,有助于研究玻璃基板在成分或者工艺微调整情况下对密度的影响问题,进而有助于指导工艺生产。
搜索关键词: 一种 玻璃 检测 密度 天平
【主权项】:
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