[实用新型]测量系统有效

专利信息
申请号: 201922021083.3 申请日: 2019-11-19
公开(公告)号: CN211651532U 公开(公告)日: 2020-10-09
发明(设计)人: 埃拉德·多坦;莫舍·万霍特斯克尔;希莫·亚洛夫;瓦莱里·戴希;罗伊·林格尔;本亚明·舒尔曼;纽希·巴尔·欧恩;沙哈尔·巴桑 申请(专利权)人: 诺威量测设备股份有限公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01N21/27;H01L21/66
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 沈丹阳
地址: 以色列*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本申请公开了一种测量系统,配置为与处理设备集成,处理设备用于对结构进行光学测量,测量系统包括:支撑组件,用于将待测结构保持在测量平面中,使结构沿着至少一个第一横轴移动,并且用于通过z轴载物台改变测量平面的z轴位置;其中,z轴载物台包括两个相对对称的楔块,楔块支撑中间元件,中间元件具有与楔块接触的定向下表面;其中,支撑组件配置为通过改变楔块之间的距离来改变测量平面的z轴位置。
搜索关键词: 测量 系统
【主权项】:
暂无信息
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