[实用新型]一种片式电子元器件浪涌测试治具有效
| 申请号： | 201922047877.7 | 申请日： | 2019-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN211293110U | 公开（公告）日： | 2020-08-18 |
| 发明（设计）人： | 唐小馨;唐晓敏 | 申请（专利权）人： | 唐晓敏 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 深圳市广诺专利代理事务所(普通合伙) 44611 | 代理人： | 伍华荣 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种片式电子元器件浪涌测试治具。该片式电子元器件浪涌测试治具包括底座；两片弹片，其相对设置，通过第一安装通孔插接固定在底座上；上盖，上盖与所述底座卡合固定；绝缘耐高温垫板，绝缘耐高温垫板设置在所述两片弹片之间，且与底座相连接；以及两块耐高温保护侧板，所述耐高温保护侧板设置在所述弹片和所述上盖之间，且与所述上盖相连接。采用上述设计，当片式电子元器件如电解电容在测试过程中出现短路，电解电容会爆燃，产生1600摄氏度以上的瞬间高温时，由于与其接触的垫板为绝缘耐高温，同时两块耐高温保护侧板也是耐高温的，就可以避免在该高温的影响下，对治具造成烧毁的问题，降低了老化测试治具的更换成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子元器件 浪涌 测试 | ||
【主权项】：
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