[实用新型]建筑物墙体位移刻度测量装置有效

专利信息
申请号: 201922059741.8 申请日: 2019-11-26
公开(公告)号: CN210570413U 公开(公告)日: 2020-05-19
发明(设计)人: 张力;张卫;姚彩华;姚德朋 申请(专利权)人: 江阴香江光电仪器有限公司
主分类号: G01B5/14 分类号: G01B5/14;G01B5/02
代理公司: 无锡大扬专利事务所(普通合伙) 32248 代理人: 何军
地址: 214424 江苏省无锡*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型涉及一种建筑物墙体位移刻度测量装置,其特征为它包括测量底板、测量面板和固定螺栓;在测量底板的前端面上设有一测量凹槽,在测量凹槽上设有测量用的刻度表;对应测量凹槽在测量面板的后端面上设有连接凹槽;测量面板通过连接凹槽贴合在测量底板的测量凹槽上;在测量底板一端设有底板安装孔,在测量底板另一端对应的在测量面板上设有面板安装孔,在底板安装孔与面板安装孔中分别设有固定螺栓。本实用新型具有方便大型建筑物的墙体位移测量的优点。
搜索关键词: 建筑物 墙体 位移 刻度 测量 装置
【主权项】:
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