[实用新型]一种能实现快速对位的测试架有效
| 申请号： | 201922061578.9 | 申请日： | 2019-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN211318667U | 公开（公告）日： | 2020-08-21 |
| 发明（设计）人： | 邹宇华;张鸿伟 | 申请（专利权）人： | 景旺电子科技(龙川)有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人： | 蒋学超 |
| 地址： | 517000*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种能实现快速对位的测试架，涉及PCB测试架技术领域。该测试架包括上模针盘和下模针盘，还包括至少2组对位件，所述对位件包括套管和套柱；所述套管设于下模针盘，所述套柱设于上模针盘；所述下模针盘和上模针盘对位合模时，各组所述套柱套入所述套管内。本实用新型在现有的测试架结构设计上，根据测试架尺寸可选择地增加2组、4组或6组对位件，用于改善常规对位方式误差大的情况，同时可以有效提高高密度的板子的测试良率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 实现 快速 对位 测试 | ||
【主权项】：
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