[实用新型]一种用于半导体的引线框架自动化检测设备

摘要

本实用新型公开了一种用于半导体的引线框架自动化检测设备，包括AOI检测设备、进料入口和收料出口，所述进料入口固定安装于AOI检测设备一端，所述收料出口固定安装于AOI检测设备另一端，所述AOI检测设备一端位于进料入口上方处固定安装有洁净机构，所述洁净机构包括除尘框和净化箱，所述净化箱固定安装于除尘框顶端靠近轴心处，所述除尘框顶端一侧固定安装有空压机；本实用新型通过安装的洁净机构，喷嘴喷出的气流可将引线框架表面难以清除的碎屑和脏污吹起，最后再由两组吸尘罩进行吸附，从而可有效清除引线框架表面残留的碎屑和脏污，可保证引线框架检测的精准性。