[实用新型]一种单光电编码器大变形测量装置有效

专利信息
申请号: 201922228931.8 申请日: 2019-12-12
公开(公告)号: CN211347673U 公开(公告)日: 2020-08-25
发明(设计)人: 樊嗣坚;麦英伟;罗万良;梁嘉城 申请(专利权)人: 广州市广材试验仪器有限公司
主分类号: G01N3/02 分类号: G01N3/02;G01N3/04;G01N3/08
代理公司: 广州鼎贤知识产权代理有限公司 44502 代理人: 刘莉梅
地址: 511400 广东省广州市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开一种单光电编码器大变形测量装置,包括支架、安装在支架上的光电编码器装置、位于光电编码器装置两侧的两个传动装置、位于光电编码器装置下方的平衡装置、位于传动装置下方的两个第一夹头、安装在支架一侧的驱动装置以及线绳,线绳与第一夹头、传动装置、平衡装置和光电编码器装置依次连接,两个第一夹头分别夹取试样的两侧,驱动装置可驱动试样向上拉伸变形以带动光电编码器装置转动,光电编码器装置可读取试样的拉伸长度。本实用新型通过采用单光电编码器代替双光电编码器,将两标距线的位移量转化为单光电编码器的正负转角,直接得出试样标距的增量,节省了设备成本,提高了测量精度。
搜索关键词: 一种 光电 编码器 变形 测量 装置
【主权项】:
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