[实用新型]半导体分立器件测试的装置有效

专利信息
申请号: 201922284642.X 申请日: 2019-12-18
公开(公告)号: CN211505782U 公开(公告)日: 2020-09-15
发明(设计)人: 李莎;王辉;张宗勇 申请(专利权)人: 青岛航天半导体研究所有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 山东重诺律师事务所 37228 代理人: 贾巍超
地址: 266000 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明涉及半导体分立器件测试的装置,其包括测试源、测试架、以及设置在测试架上的测试转换台;测试转换台上设置有用于测试作为转换器的分立器的工位,在工位上设置有用于压装转换器的弹簧片;在测试架上设置有电源模块、整流模块、一次滤波模块、稳压模块、二次滤波模块、计数模块、显码模块、驱动模块、触发模块、继电器模块、以及矩阵电路模块;电源模块依次通过整流模块、一次滤波模块、稳压模块、二次滤波模块、计数模块、显码模块、驱动模块、继电器模块、以及矩阵电路模块电连接;触发模块与计数模块电连接;在测试转换台设置有测试模块;本发明设计合理、结构紧凑且使用方便。
搜索关键词: 半导体 分立 器件 测试 装置
【主权项】:
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