[实用新型]断路器用测试结构有效

专利信息
申请号: 201922288086.3 申请日: 2019-12-18
公开(公告)号: CN211060943U 公开(公告)日: 2020-07-21
发明(设计)人: 杨卫华;朱宣吉 申请(专利权)人: 扬州新纪元电器有限责任公司
主分类号: G01D11/00 分类号: G01D11/00
代理公司: 扬州市苏为知识产权代理事务所(普通合伙) 32283 代理人: 葛军
地址: 225236 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 断路器用测试结构。涉及断路器,尤其涉及断路器中脱扣半轴用测试结构。提供了一种结构简单,方便操作,提高工作可靠性的断路器用测试结构。包括基座和测试块,所述测试块呈长方体,所述测试块的中心设有用于放置脱扣半轴的容置孔,所述测试块的底面位于容置孔的两侧分别设有圆弧形滑孔,所述基座的顶面设有一对滑杆,所述滑杆一一对应设在滑孔内,所述测试块上设有孔组一,所述脱扣半轴上设有孔组二,所述孔组一和孔组二相对应。所述容置孔的长度等于脱扣半轴的长度。所述基座上设有容置槽,所述滑杆可拆卸连接在容置槽内。本实用新型方便加工,操作可靠。
搜索关键词: 断路 器用 测试 结构
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