[实用新型]X光金属镀层测厚仪有效
申请号: | 201922322188.2 | 申请日: | 2019-12-21 |
公开(公告)号: | CN210773950U | 公开(公告)日: | 2020-06-16 |
发明(设计)人: | 林铭 | 申请(专利权)人: | 深圳市鑫捷伟科技有限公司 |
主分类号: | G01B15/02 | 分类号: | G01B15/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种X光金属镀层测厚仪,其包括盒体以及设置在盒体内部空间中的放置台,还包括:第一驱动组件、第二驱动组件与第三驱动组件,第一驱动组件设置在盒体内部空间的底面上,第一驱动组件用于驱动放置台、第二驱动组件以及第三驱动组件左右移动;第二驱动组件设置在第一驱动组件上,第二驱动组件用于驱动第三驱动组件以及放置台前后移动;第三驱动组件设置在第二驱动组件上,第三驱动组件用于驱动放置台上下移动。本实用新型具有能够更加方便将被测物品放置到放置台上的效果。 | ||
搜索关键词: | 金属 镀层 测厚仪 | ||
【主权项】:
暂无信息
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