[实用新型]一种用于半导体设备的光学检测装置有效
申请号: | 201922350036.3 | 申请日: | 2019-12-24 |
公开(公告)号: | CN211741035U | 公开(公告)日: | 2020-10-23 |
发明(设计)人: | 王迪杏;蒋伟;王宁;张阳;秦文兵;王金裕;苗全;盛路阳;王伟;顾育琪 | 申请(专利权)人: | 无锡迪渊特科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/15 |
代理公司: | 连云港联创专利代理事务所(特殊普通合伙) 32330 | 代理人: | 谷金颖 |
地址: | 214000 江苏省无锡市新*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种用于半导体设备的光学检测装置,包括光学检测仪本体,所述光学检测仪本体的底端一侧安装有两个万向脚轮,且光学检测仪本体的底端另一侧设置有两个方管支腿,所述方管支腿的顶部设置有阻尼合页,且方管支腿通过阻尼合页活动安装在光学检测仪本体上,所述方管支腿的底部设置有防滑座,且防滑座的上端外表面开设有矩形凹孔,所述方管支腿的上下两端均焊接连接有固定板,所述光学检测仪本体的侧面设置有两个定位机构,本实用新型所达到的有益效果是:利用可调节的方管支腿配合万向脚轮,既方便了光学检测仪的移动,也提高了光学检测仪的稳定性,且移动操作十分简单,同时显著提升了检测台的防尘性能,提高了检测结果的准确度。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 半导体设备 光学 检测 装置 | ||
【主权项】:
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