[实用新型]一种碳化硅微粉中大颗粒检测仪有效
| 申请号： | 201922400851.6 | 申请日： | 2019-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN211528142U | 公开（公告）日： | 2020-09-18 |
| 发明（设计）人： | 周强;赵雷;徐金鹤 | 申请（专利权）人： | 山东依莱特硅业有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 277500 山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种碳化硅微粉中大颗粒检测仪，包括支架、电机、研磨仓和电控盘，所述电控盘竖直安装在研磨仓左侧，所述研磨仓顶部装有料浆分流器，所述固定盘对应料浆分流器水平安装在研磨仓内，所述固定盘内装有传动轴，所述传动轴位于固定盘圆心，传动轴与中心齿轮焊接在一起，所述中心齿轮视奏与从动轮啮合，所述从动轮安装在固定盘内部。本实碳化硅微粉中大颗粒检测仪设计方案结构巧妙合理，通过刨金片观察颗粒程度，观察直观，检测成本低；在规定的时间内完成磨削试验后，检测刨金片的划痕，从而判定碳化硅微粉中的大颗粒等异物情况，十分方便，安全可靠，宜推广使用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 碳化硅 微粉中大 颗粒 检测 | ||
【主权项】：
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