[实用新型]一种散热片IC高电流老化测试装置有效
申请号: | 201922461420.0 | 申请日: | 2019-12-31 |
公开(公告)号: | CN211528617U | 公开(公告)日: | 2020-09-18 |
发明(设计)人: | 郭宝霞;张立业 | 申请(专利权)人: | 苏州工业园区创晖隆自动化科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215000 江苏省苏州市工业园区唯*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开一种散热片IC高电流老化测试装置,包括底座、龙门架、升降气缸、载板、高电流测试探针、平移气缸、交错辅助压板、交错拼接齿块、定位工装、副支架、温度传感器,所述底座上设置有龙门架,所述龙门架上竖直向下设置有升降气缸,所述升降气缸传动连接水平布置的载板,所述载板外沿竖直设置有高电流测试探针,所述底座表面水平设置有平移气缸,所述平移气缸传动连接水平布置的交错辅助压板,所述交错辅助压板上设置有一体成型的交错拼接齿块。通过上述方式,本实用新型提供一种散热片IC高电流老化测试装置,代替人工作业,极大缩短了测试时间,同时提高了老化测试过程中温度数据的采集精度和稳定性,保证测试结果的有效可靠。 | ||
搜索关键词: | 一种 散热片 ic 电流 老化 测试 装置 | ||
【主权项】:
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