[实用新型]一种散热片IC高电流老化测试装置有效

专利信息
申请号: 201922461420.0 申请日: 2019-12-31
公开(公告)号: CN211528617U 公开(公告)日: 2020-09-18
发明(设计)人: 郭宝霞;张立业 申请(专利权)人: 苏州工业园区创晖隆自动化科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215000 江苏省苏州市工业园区唯*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开一种散热片IC高电流老化测试装置,包括底座、龙门架、升降气缸、载板、高电流测试探针、平移气缸、交错辅助压板、交错拼接齿块、定位工装、副支架、温度传感器,所述底座上设置有龙门架,所述龙门架上竖直向下设置有升降气缸,所述升降气缸传动连接水平布置的载板,所述载板外沿竖直设置有高电流测试探针,所述底座表面水平设置有平移气缸,所述平移气缸传动连接水平布置的交错辅助压板,所述交错辅助压板上设置有一体成型的交错拼接齿块。通过上述方式,本实用新型提供一种散热片IC高电流老化测试装置,代替人工作业,极大缩短了测试时间,同时提高了老化测试过程中温度数据的采集精度和稳定性,保证测试结果的有效可靠。
搜索关键词: 一种 散热片 ic 电流 老化 测试 装置
【主权项】:
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