[实用新型]COB双站测试分编一体机有效

专利信息
申请号: 201922465705.1 申请日: 2019-12-31
公开(公告)号: CN211756991U 公开(公告)日: 2020-10-27
发明(设计)人: 雄亚俊;段雄斌;席松涛 申请(专利权)人: 深圳市标谱半导体科技有限公司
主分类号: B07C5/342 分类号: B07C5/342;B07C5/02;B07C5/36;H01L33/48;H01L33/52
代理公司: 深圳市金笔知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44297 代理人: 胡清方;彭友华
地址: 518000 广东省深圳市宝安*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种COB双站测试分编一体机,包括分光部分和编带部分,分光部分对材料进行检测,COB双站测试装置包括压制结构、第一测试结构和第二测试结构,移动结构将COB材料移动到第一检测位置,压制结构将COB材料的一部分区域遮挡,COB材料的未被遮挡部分被点亮,第一测试结构测试COB材料未被遮挡的区域;测试完成后,移动结构将COB材料移动到第二检测位置,压制结构将COB材料的被第一测试结构测试过的部分区域遮挡,COB材料的未被遮挡的部分被点亮,第二测试结构测试COB材料未被遮挡的区域。本实用新型由于采用了双站测试,第一次测试COB材料的一部分区域,第二次测试COB材料的另一部分区域,通过两次测试,从而完成对整个COB材料的测试,适合于对COB材料的检测。
搜索关键词: cob 测试 一体机
【主权项】:
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