[实用新型]一种半导体测试设备探针台用调节支架有效

专利信息
申请号: 201922467471.4 申请日: 2019-12-31
公开(公告)号: CN211453717U 公开(公告)日: 2020-09-08
发明(设计)人: 朱松 申请(专利权)人: 苏州三像智能科技有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R1/067;G01R1/14;G01R31/26
代理公司: 苏州言思嘉信专利代理事务所(普通合伙) 32385 代理人: 刘巍
地址: 215000 江苏省苏州市工*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种半导体测试设备探针台用调节支架,涉及探针台调节装置技术领域,包括底座,底座的顶部开设有滑槽,滑槽的内壁滑动连接有滑块,滑槽的内壁一侧固定连接有轴承,底座的一侧开设有螺孔,螺孔的一侧设置有第一转柄,第一转柄的一侧转动连接有螺杆,螺杆的一端贯穿螺孔和滑块延伸至轴承的一侧,且与轴承的一侧转动连接,滑块的顶部固定连接有支撑台,支撑台的顶部开设有圆孔,圆孔的一侧设置有转盘,转盘的底部转动连接有转轴。本实用新型通过螺杆和滑块的配合使用,实现了对探测针的位置进行移动的目的,操作简单,提高了移动的便捷性,且通过手动调节,比较容易控制,提高了检测的准确性。
搜索关键词: 一种 半导体 测试 设备 探针 调节 支架
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