[实用新型]一种用于硅片测试的新型模具有效

专利信息
申请号: 201922480293.9 申请日: 2019-12-31
公开(公告)号: CN212159856U 公开(公告)日: 2020-12-15
发明(设计)人: 马飞;袁长宏;娄中士;李仕权;常瑞新;李鹏飞;李睿;田宇翔 申请(专利权)人: 内蒙古中环领先半导体材料有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 天津诺德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 12213 代理人: 栾志超
地址: 010070 内蒙古自*** 国省代码: 内蒙古;15
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摘要: 实用新型公开了一种用于硅片测试的新型模具,其包括一辅助取点装置,所述取点辅助装置上端面呈圆形,且取点辅助装置的中心设置有中心点测试孔,所述取点辅助装置上还间隔设置有两测试槽以及两排边缘点测试孔,两测试槽对称设置于中心点测试孔两侧,两排边缘点测试孔对称设置于中心点测试孔的另两侧,各测试孔的圆心在同一直线上,且该直线与两测试槽的中心线的延长线垂直;每一测试槽和边缘点测试孔的一侧均设置有刻度线,测试时,将所述取点辅助装置置于硅片样片上方,并使得硅片样片的中心与模具的中心对准,将测试探针插入各测试孔以及测试槽内,从而测试硅片样片对应点的相关数据;如此,操作更规范、简单方便,还能保证测试数据的精准性。
搜索关键词: 一种 用于 硅片 测试 新型 模具
【主权项】:
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