[外观设计]数字集成电路测试系统（ST3020-D）有效
| 申请号： | 201930170749.4 | 申请日： | 2019-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN305390219S | 公开（公告）日： | 2019-10-18 |
| 发明（设计）人： | 邓亚芬;濮德龙 | 申请（专利权）人： | 北京信诺达泰思特科技股份有限公司 |
| 主分类号： | 10-05 | 分类号： | 10-05 |
| 代理公司： | 北京智沃律师事务所 11620 | 代理人： | 李笑丹 |
| 地址： | 100142 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 1．本外观设计产品的名称：数字集成电路测试系统（ST3020‑D）。2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于测试数字集成电路，可靠性高。3．本外观设计产品的设计要点：在于产品整体形状。4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片：立体图。 | ||
| 搜索关键词： | 外观设计 数字集成电路测试 数字集成电路 整体形状 测试 图片 | ||
【主权项】：
暂无信息
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