[外观设计]微波半导体器件多参数测试仪有效
| 申请号： | 201930402569.4 | 申请日： | 2019-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN305559126S | 公开（公告）日： | 2020-01-17 |
| 发明（设计）人： | 谢丹;陈振琳;丁志钊 | 申请（专利权）人： | 中电科仪器仪表有限公司 |
| 主分类号： | 10-04 | 分类号： | 10-04 |
| 代理公司： | 37221 济南圣达知识产权代理有限公司 | 代理人： | 董雪 |
| 地址： | 266555 山东省*** | 国省代码： | 山东;37 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 1.本外观设计产品的名称：微波半导体器件多参数测试仪。;2.本外观设计产品的用途：微波半导体器件多参数测试仪，主要用于对典型移动通信芯片和微波半导体器件/芯片等的测试应用开发。;3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。;4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。 | ||
| 搜索关键词： | 微波半导体器件多参数测试仪 | ||
【主权项】：
暂无信息
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