[发明专利]多个取向的成像传感器的对准系统有效
| 申请号： | 201980002842.1 | 申请日： | 2019-02-19 |
| 公开（公告）号： | CN110785624B | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | E.G.格斯纳 | 申请（专利权）人： | 优质视觉技术国际公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/26 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 秦宝龙;闫小龙 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 用于坐标测量机器的成像传感器的对准系统包括与测量机器的工作台相关联的参考表面，但是代替将参考表面成像为位置标记，参考表面与成像传感器一起被结合到组合成像系统中以用于对与成像传感器相关联的特征进行成像。成像的特征可以是成像传感器的内部的部分（例如内部孔径）或者与成像传感器具有固定关系的外部特征（例如镜头罩）。 | ||
| 搜索关键词： | 取向 成像 传感器 对准 系统 | ||
【主权项】：
1.一种在坐标测量机器的参考系内对准成像传感器的方法，包括以下步骤：/n照亮与成像传感器具有经定义的关系的基准标记；/n相对于与坐标测量机器的测试对象安装台具有经定义的关系的凸反射参考表面相对地移动成像传感器，使得由凸反射参考表面反射的基准标记的图像位于成像传感器的成像视场内；/n相对于凸反射参考表面进一步相对地移动成像传感器，以便在成像传感器的成像视场的一部分上平移基准标记的图像；以及/n将基准标记在成像传感器的成像视场上的位移与以下各项中的至少一项相关联：（a）成像传感器连同凸反射参考表面对基准标记的放大率，以及（b）坐标测量机器的参考系中的成像传感器的取向。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于优质视觉技术国际公司，未经优质视觉技术国际公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201980002842.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于确定距物体距离的距离测量装置
- 下一篇：表面形貌测量系统
