[发明专利]自动分析装置以及自动分析装置的流路堵塞检测方法有效
申请号: | 201980004511.1 | 申请日: | 2019-01-23 |
公开(公告)号: | CN111133317B | 公开(公告)日: | 2021-05-04 |
发明(设计)人: | 福士雄大;森高通 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00;G01N35/10 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 曾贤伟;范胜杰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 具有多个吸引反应废液的机构以及吸引样品以及取样器表面的清洗液等的机构的自动分析装置,通过减压泵等对真空罐进行减压,利用其负压进行废液的吸引。当真空罐内的压力达到某预定的负压时,设置在真空罐内的真空开关的接点接触,从而成为能够进行分析的状态。当在与真空罐连接的各机构的流路部存在堵塞的情况下,无法正常地进行吸引动作,从而对分析性能产生影响。在单独地打开与真空罐连接的电磁阀的时机内,将真空泵设为断开,测量直至真空罐的压力达到预定的负压为止的时间。将测量出的时间与正常的情况下的参数进行比较,并判别异常的有无。 | ||
搜索关键词: | 自动 分析 装置 以及 堵塞 检测 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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