[发明专利]用于光检测和测距（LIDAR）测量的同轴结构在审
| 申请号： | 201980005955.7 | 申请日： | 2019-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN111417872A | 公开（公告）日： | 2020-07-14 |
| 发明（设计）人： | 麦可·史查德;M·劳舍尔 | 申请（专利权）人： | 视野有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/89 | 分类号： | G01S17/89;G01S17/90;G01S7/481;G01S17/48;G01C15/00 |
| 代理公司： | 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 | 代理人： | 艾佳 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于使用初级光和在物体(110)上反射的次级光对物体(110)进行测距的LIDAR系统(100)，包括：激光器(200)，布置成沿发射光束(210)向LIDAR系统的扫描元件(800)发射初级光，其中与扫描元件相邻的至少一部分发射光束定义中心线(300)；检测器(400)，布置成沿接收光束(500)检测次级光，其中接收光束包括与中心线对齐的第一部分(510)和相对于中心线(300)具有倾角(530)的第二部分(520)，其中接收光束的第二部分(520)位于接收光束的第一部分(510)和检测器(400)之间；以及分段透镜(600)，位于接收光束的第一部分(510)和接收光束的第二部分(520)之间的中心线(300)上，分段透镜(600)包括与发射光束关联的发射透镜段(610)和与接收光束关联的接收透镜段(620)，其中，接收透镜段(620)设计为将接收光束聚焦到检测器上。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 测距 lidar 测量 同轴 结构 | ||
【主权项】：
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