[发明专利]使用实验室校准的测试设备和样本数据分析多孔材料在审
| 申请号： | 201980006899.9 | 申请日： | 2019-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN111566477A | 公开（公告）日： | 2020-08-21 |
| 发明（设计）人： | 丹尼斯·M·安德森;斯蒂芬·R-K·菲林;威廉·埃尼;戴夫·B·斯特拉利 | 申请（专利权）人： | 丹尼斯·M·安德森 |
| 主分类号： | G01N27/02 | 分类号： | G01N27/02;G01N27/04;G01N33/24;G01R17/10;G01R27/02;G01V3/06 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 丁文蕴;张会娟 |
| 地址： | 美国内*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用于测试例如用在路基或建筑地基中的多孔材料的测试设备可以部署在各种测试工地的现场。测试设备包括与被测多孔材料接触的电极以及将电磁信号提供给多孔材料的传感器单元。响应信号反映可以等同于诸如密度和湿度的材料性质的诸如复阻抗的电学参数。可以参照在使用相同测试设备的实验室测试中做出的经验相关性来考虑测试设备对测量的影响。电极可包括在与多孔材料接触时减小气隙的柔性共面电极。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 实验室 校准 测试 设备 样本 数据 分析 多孔 材料 | ||
【主权项】：
暂无信息
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