[发明专利]光纤特性测量系统和方法在审
| 申请号： | 201980011236.6 | 申请日： | 2019-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN111788781A | 公开（公告）日： | 2020-10-16 |
| 发明（设计）人： | 让-吕克·阿尔尚博;曹松;金娜英 | 申请（专利权）人： | 希尔纳公司 |
| 主分类号： | H04B10/075 | 分类号： | H04B10/075;G01M11/00 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 谢攀;刘继富 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用于对光纤进行表征的系统和方法，其由光学线路系统(10)中的光学节点(12)部分地执行，包括利用一个或更多个组件(50、52)在光学节点(12)处执行一个或更多个测量以表征光纤(16、18)，其中，一个或更多个组件(50、52)在光学节点(12)的操作期间执行功能，并且被重新配置为独立于该功能执行一个或更多个测量；以及基于一个或更多个测量，配置光学节点(12)以通过光纤(16、18)进行通信。一个或更多个组件能够包括光学服务信道(OSC)、光学时域反射仪(OTDR)和光学放大器中的任意一个。该配置能够包括基于一个或更多个测量设置进入光纤中的发射功率。 | ||
| 搜索关键词： | 光纤 特性 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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