[发明专利]使用太赫兹的用于片材产品的扫描厚度和基重传感器在审
| 申请号： | 201980012943.7 | 申请日： | 2019-03-05 |
| 公开（公告）号： | CN111712729A | 公开（公告）日： | 2020-09-25 |
| 发明（设计）人： | 塞巴斯蒂安·蒂克西尔 | 申请（专利权）人： | 霍尼韦尔有限公司 |
| 主分类号： | G01S13/88 | 分类号： | G01S13/88;G01S17/88;G01B7/14 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 马爽;臧建明 |
| 地址： | 加拿大安大略*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 飞行时间测量独立于膜的折射率来计算移动膜的绝对厚度。耦接反射纤维的太赫兹计与定位在扫描仪头部内的温度稳定的Z传感器同轴安装。太赫兹计监测四种反射：(1)来自传感器窗口的反射，(2，3)来自被测量的片材产品的顶表面和底表面的反射，以及(4)来自放置在片材后面的反射器的反射。Z传感器监测反射器与传感器窗口之间的距离。太赫兹反射延迟与Z距离测量一起允许提取厚度。由于由片材引起的时间延迟是厚度和折射率的函数，因此片材的基重可通过使用传感器的校准来确定，该校准将产品的基重与时间延迟相关联。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 赫兹 用于 产品 扫描 厚度 传感器 | ||
【主权项】：
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