[发明专利]单晶硅的制造方法及单晶硅的提拉装置有效
申请号: | 201980015967.8 | 申请日: | 2019-02-27 |
公开(公告)号: | CN112074628B | 公开(公告)日: | 2022-05-31 |
发明(设计)人: | 横山龙介;坂本英城;杉村涉 | 申请(专利权)人: | 胜高股份有限公司 |
主分类号: | C30B29/06 | 分类号: | C30B29/06;C30B15/20 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 杨戬 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种单晶硅的制造方法,使不活泼气体在腔室内流过,并且对石英坩埚内的硅熔液施加水平磁场,从而提拉单晶硅,在所述单晶硅的制造方法中实施:在热屏蔽体的下端部及石英坩埚内的硅熔液表面之间流过的不活泼气体流中,形成相对于包含提拉装置的晶体提拉轴以及水平磁场的施加方向的平面为非面对称,并且相对于晶体提拉轴为非旋转对称的流动分布的工序(S1);直到石英坩埚内的硅原料完全熔化为止,在无磁场下维持所形成的非面对称且非旋转对称的流动分布的工序(S2);以及在硅原料完全熔化之后,施加水平磁场而开始提拉单晶硅的工序(S3)。 | ||
搜索关键词: | 单晶硅 制造 方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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