[发明专利]一种厚度测量装置及使用方法在审
| 申请号： | 201980016413.X | 申请日： | 2019-01-31 |
| 公开（公告）号： | CN111801553A | 公开（公告）日： | 2020-10-20 |
| 发明（设计）人： | 伊马德·H·埃尔哈吉;丹尼尔·H·阿斯马尔;迈赫迪·萨利赫;加桑·韦达特 | 申请（专利权）人： | 贝鲁特美国大学 |
| 主分类号： | G01F23/26 | 分类号： | G01F23/26;G01B7/06 |
| 代理公司： | 成都超凡明远知识产权代理有限公司 51258 | 代理人： | 王晖;曹桓 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本文提供了用于基于电容阵列的厚度测量装置的系统、方法和设备。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 厚度 测量 装置 使用方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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