[发明专利]表征具有问题折射率分布的玻璃基离子交换制品中的应力的棱镜耦合方法有效
| 申请号： | 201980016844.6 | 申请日： | 2019-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN111801302B | 公开（公告）日： | 2023-01-10 |
| 发明（设计）人： | V·M·施奈德 | 申请（专利权）人： | 康宁股份有限公司 |
| 主分类号： | C03C21/00 | 分类号： | C03C21/00;G01M11/08;G01L1/24;G01N21/41;G01N21/84;G02B6/34;G01B5/04;G02B6/36;G01B11/06;G01B11/22;G02B6/134;G02B6/14 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 张璐;乐洪咏 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本文公开的棱镜耦合方法涉及确定原始IOX制品的应力特征，所述原始IOX制品具有掩埋IOX区域，其具有掩埋折射率分布，该掩埋折射率分布从某种意义上讲是有问题的，其阻止使用棱镜耦合器系统来测量原始IOX制品。所述方法包括在原始IOX制品的掩埋IOX区域的表面部分中对原始IOX制品的掩埋IOX区域进行改性以形成经改性的IOX制品，所述经改性的IOX制品具有未掩埋的折射率分布，其允许使用棱镜耦合器来测量经改性的IOX制品。所述方法还包括使用棱镜耦合器系统来测量经改性的IOX制品的模式谱。所述方法还包括由经改性的IOX制品的模式谱来确定原始IOX制品的一种或多种应力特征。 | ||
| 搜索关键词： | 表征 具有 问题 折射率 分布 玻璃 离子交换 制品 中的 应力 棱镜 耦合 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于康宁股份有限公司，未经康宁股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201980016844.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：连接器
- 下一篇：用于医疗装置插入系统的导丝推进和血液闪回系统
