[发明专利]光检测装置、光检测方法以及光学式测距传感器有效
| 申请号： | 201980017351.4 | 申请日： | 2019-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN111868473B | 公开（公告）日： | 2022-04-22 |
| 发明（设计）人： | 堀野昌伸;松井优贵;中室健;仲田佐幸 | 申请（专利权）人： | 欧姆龙株式会社 |
| 主分类号： | G01C3/06 | 分类号： | G01C3/06;G01S7/487;G01S17/10;H01L31/10 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 邓毅;黄纶伟 |
| 地址： | 日本国京*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 光检测装置(1)根据检测开始定时检测入射的光。光检测装置具有多个受光元件(10a～10c)、信号合成电路(13)、检测电路(3)和至少一个时间测量电路(4)。多个受光元件接受光，并分别生成表示受光结果的输出信号(Sa～Sc)。信号合成电路对来自各受光元件的多个输出信号进行合计，生成合成信号(S1)。检测电路检测合成信号在检测开始定时后达到最大的定时，生成表示检测到的定时的检测信号(S2)。时间测量电路根据检测信号，测量检测开始定时与检测到的定时之间的测定期间(T3)。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 装置 方法 以及 光学 测距 传感器 | ||
【主权项】：
暂无信息
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