[发明专利]散射辅助超定位显微术方法及相关装置

摘要

一种荧光显微术方法，包括以下步骤：A.用相干激发光束(5)照射包括一个或多个荧光发射体的散射样品，相干激发光束的波前具有第一初始配置C1以激发散射样品中包括的一个或多个荧光发射体；B.通过像素成像单元(45)采集与散射样品的背景图像对应的第一初始图像F1，F1＝FB，从而获得散斑颗粒图像；C.选择坐标为[xN,yN]的M个目标像素PN，所述M个目标像素属于第一初始图像F1的具有至少一个荧光发射体的荧光信号的区域，其中N＝1、…、M，M个目标像素PN中的每个目标像素均具有第一初始强度IPN1；D.针对M个目标像素PN中的每个目标像素，优化波前的第一初始配置，以便减小第一初始图像F1的散斑颗粒尺寸，并且获得散射样品的具有荧光信号的局部最大值IPN最大的最终图像F最终(IPN最大)，所述局部最大值对应于目标像素PN的最大强度；E.针对M个目标像素PN中的每个目标像素，从在步骤D获得的最终图像F最终(IPN最大)中减去在步骤B获得的背景的第一初始图像FB，针对M个目标像素PN中的每个目标像素，获得仅具有从位于强度为IPN散斑的像素[XN,ZN]处的散斑颗粒而来的荧光信号的图像F散斑(PN)；F.针对M个目标像素PN中的每个目标像素，用具有自由中心坐标的高斯函数对在步骤E中获得的图像F散斑(PN)进行拟合，从而获得xy平面中的坐标(XN,ZN)和强度IN；G.针对M个目标像素PN中的每个目标像素，生成包含高斯分布的图像FN，所述高斯分布以在步骤F中获得的坐标(XN,ZN)为中心并且具有强度IN、并且具有等于散射样品的平均散斑颗粒尺寸S的束腰；H.针对M个目标像素PN中的每个目标像素，通过对在步骤G获得的M个图像FN求和来生成样品的最终图像。