[发明专利]用于测试二次电池内部短路的方法和设备以及用于测试内部短路的二次电池在审
| 申请号： | 201980021739.1 | 申请日： | 2019-06-11 |
| 公开（公告）号： | CN111902994A | 公开（公告）日： | 2020-11-06 |
| 发明（设计）人： | 金修汉;尹东植 | 申请（专利权）人： | 株式会社LG化学 |
| 主分类号： | H01M10/42 | 分类号： | H01M10/42;G01R31/52;G01R31/385;G01R1/04;G01K7/04 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 王伟;高伟 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 提供了通过模拟使用二次电池的环境条件来测试内部短路的方法和设备以及用于该方法来测试其内部短路的二次电池。根据本发明的用于测试二次电池内部短路的方法包括以下步骤：在二次电池内侧安装P‑N结二极管；对二次电池进行充电；以及当P‑N结二极管导通时，假设已经发生了二次电池的内部短路的情况下评估二次电池的状态。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 二次 电池 内部 短路 方法 设备 以及 | ||
【主权项】：
暂无信息
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