[发明专利]自动分析装置在审
申请号: | 201980024292.3 | 申请日: | 2019-03-20 |
公开(公告)号: | CN111936863A | 公开(公告)日: | 2020-11-13 |
发明(设计)人: | 平林祐一;稻木大;横塚圣;有贺洋一;M·阿伯尔索德 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术;豪夫迈·罗氏有限公司 |
主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 殷明;俞丹 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明的自动分析装置包括:分析部(8、9、16),其进行分析、以及为了保证分析的精度的精度管理分析;存储介质(1a),其存储分析部(8、9、16)所进行的精度管理分析的精度管理结果;监视器(2),其显示精度管理结果;以及控制PC(1),其控制分析部(8、9、16)的动作,并且在从存储介质(1a)中所存储的精度管理结果中选择了任意结果时,基于所选择的精度管理结果,执行所选择的结果与过去所实施的精度管理结果的统计计算,并使监视器(2)显示统计计算的结果即统计计算画面(300)。 | ||
搜索关键词: | 自动 分析 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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