[发明专利]用于监测被测量的设备有效

专利信息
申请号: 201980024496.7 申请日: 2019-03-29
公开(公告)号: CN112105894B 公开(公告)日: 2023-06-02
发明(设计)人: C·多伊尔;K·琼斯 申请(专利权)人: 基德科技公司
主分类号: G01D5/353 分类号: G01D5/353;G01K11/32;G01K11/3206;G01K11/322;G01K11/324
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 杨子硕;陈岚
地址: 美国北卡*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供了一种用于沿着光波导定位诸如热点的被测量异常的设备,所述设备包括:光波导;光源,所述光源被配置为沿着所述波导传输脉冲光;以及第一传感器集合和第二传感器集合,所述第一传感器集合和所述第二传感器集合沿着所述波导设置。每个传感器被配置为在对应于被测量的相应传感器波长下反射沿着所述波导传播的光的一部分。所述第一传感器集合提供一组或多组传感器,所述一组或多组传感器被配置为检测那组内的被测量异常。所述第二集合包括多个传感器,所述多个传感器各自沿着所述波导与那个集合的相邻传感器隔开某一距离,所述距离大于所述光在脉冲持续时间期间沿着所述波导行进的距离的一半。所述第一集合的多个传感器设置在所述第二集合的每个相邻传感器之间。所述设备还包括:检测器,所述检测器被配置为监测由所述传感器反射的所述光;以及控制系统,所述控制系统被配置为控制所述光源和所述检测器以至少定位包含被测量异常的所述组以及使用所述第二集合来监测所述被测量。
搜索关键词: 用于 监测 测量 设备
【主权项】:
暂无信息
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