[发明专利]用于材料的介电不连续性的微波测量的设备在审
| 申请号： | 201980025139.2 | 申请日： | 2019-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN111954806A | 公开（公告）日： | 2020-11-17 |
| 发明（设计）人： | 乔瓦尼·拉斯帕;詹路易吉·蒂贝里 | 申请（专利权）人： | UBT有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N22/00 | 分类号： | G01N22/00;A61B5/05 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 张少波;杨明钊 |
| 地址： | 意大利佩*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了一种用于待检查的材料(M)的介电不连续性的微波测量的设备。该设备包括波导发射器(2)、波导(4)和接收天线(3)。发射器被配置为在波导中发射微波电磁场，该微波电磁场适于与待检查的材料相互作用。接收天线被配置为接收由待检查的材料“M”反射的电磁场。波导被配置为向待检查的材料传播发射的电磁场，并将反射的电磁场向接收天线(3)传送。波导(4)具有检查座(4a)，该检查座(4a)被配置用于待检查的材料的至少一部分的插入。发射器(2)或接收天线(3)中的至少一个在检查座(4a)周围的多个位置中可移动。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 材料 介电不 连续性 微波 测量 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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