[发明专利]半导体装置在审
申请号: | 201980025303.X | 申请日: | 2019-03-14 |
公开(公告)号: | CN111954933A | 公开(公告)日: | 2020-11-17 |
发明(设计)人: | 斋藤雄;增田健良 | 申请(专利权)人: | 住友电气工业株式会社 |
主分类号: | H01L29/861 | 分类号: | H01L29/861;H01L29/872;H01L21/336;H01L29/06;H01L29/12;H01L29/78;H01L29/868 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 王海川;牛嵩林 |
地址: | 日本大阪*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种半导体装置,其包含:第一半导体层,所述第一半导体层为第一导电型并且包含其中要形成多个半导体元件的元件区域;环状第二半导体层,所述环状第二半导体层为第二导电型,以包含所述第一半导体层的第一表面的方式形成,并且在俯视图中围绕所述元件区域;第三半导体层,所述第三半导体层为第二导电型,形成在所述第一半导体层中并且相比于所述第二半导体层更远离所述第一表面,并且将所述第一半导体层的一部分夹在所述第二半导体层与所述第三半导体层之间;第四半导体层,所述第四半导体层为第二导电型并且将所述第二半导体层和所述第三半导体层彼此电连接;以及第一电极,所述第一电极在俯视图中在所述第二半导体层内侧与所述第四半导体层电连接,其中所述第二半导体层中包含的第二导电型杂质的有效浓度高于所述第一半导体层中包含的第一导电型杂质的有效浓度,并且所述第三半导体层中包含的第二导电型杂质的有效浓度高于所述第二半导体层中包含的第二导电型杂质的有效浓度。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
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