[发明专利]用于对工件的半导体层进行单侧蚀刻的装置和方法在审
申请号: | 201980033126.X | 申请日: | 2019-05-06 |
公开(公告)号: | CN112335026A | 公开(公告)日: | 2021-02-05 |
发明(设计)人: | S·瑞伯;K·席林格;B·赖赫特;N·米伦科维奇 | 申请(专利权)人: | 奈克斯沃夫有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/677;H01L21/683;C25F3/12 |
代理公司: | 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 | 代理人: | 南毅宁 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于蚀刻工件的半导体层的一侧的装置,该装置包括:至少一个蚀刻池,用于容纳电解液;第一电极,被提供以用于在使用期间电接触蚀刻池中的电解液;至少一个第二电极,被提供以用于间接或直接与半导体层电接触;至少一个电功率源,用于导电地连接第一和第二电极,以产生蚀刻电流;以及至少一个运送装置,用于相对于蚀刻池来运送工件,使得在使用期间要蚀刻的半导体层蚀刻侧能通过蚀刻池中的电解液进行润湿。本发明的特征在于,运送装置具有用于工件的负压保持元件,该负压保持元件构造成通过负压将工件布置在与蚀刻侧相对的保持侧上,且第二电极设置在该负压保持元件上,使得在工件设置在负压保持元件上时通过第二电极接触工件的保持侧。本发明还涉及用于蚀刻工件的半导体层的一侧的方法。 | ||
搜索关键词: | 用于 工件 半导体 进行 蚀刻 装置 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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