[发明专利]确定性星体内建自测在审
| 申请号： | 201980034415.1 | 申请日： | 2019-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN112154336A | 公开（公告）日： | 2020-12-29 |
| 发明（设计）人： | 刘颖迪;尼兰简·穆克赫杰;贾纳兹·拉杰斯基;杰吉·泰泽尔 | 申请（专利权）人： | 明导公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/28;G01R31/3185 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 景怀宇 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 用于测试电路的系统，包括：扫描链、被配置为基于子测试向量信息来生成比特位反转信号的控制器、以及比特反转电路，所述比特反转电路被耦合至该控制器并被配置为在移位操作期间基于该比特位反转信号来反转与多个移位时钟周期相关联的父测试向量的比特位以生成子测试向量。这里，用于比特位反转的所述多个移位时钟周期在每m个移位时钟周期发生一次，并且所述子测试向量信息包括m的信息和移位操作中所述多个移位时钟周期的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 确定性 星体 自测 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于明导公司，未经明导公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201980034415.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
